在上一篇文章中，我们重点介绍了金属化薄膜电容器中两种不同的自愈机制之一：放电自愈，也称为高压自愈。在本文中，我们将了解另一种类型的自愈，即电化学自愈，通常也称为低压自愈。

电化学自愈

这种自愈通常发生在低电压下的铝金属化薄膜电容器中。这种自愈的机理如下：如果金属化薄膜电容器的介质膜有缺陷，给电容器加电压后（即使电压很低），也会有很大的漏电现象。通过缺陷的电流，表现为电容器的绝缘电阻远低于技术条件规定的值。显然，在泄漏电流中存在离子电流和可能的电子电流。由于各种有机薄膜都有一定的吸水率（0.01%～0.4%），而且电容器在制造、储存和使用过程中可能会受潮，离子电流的很大一部分是O2-和H-离子。电解水产生的电流。O2离子到达AL金属化阳极后，与AL结合形成AL2O3，随着时间的推移逐渐形成AL2O3绝缘层覆盖和隔离缺陷，从而提高电容器的绝缘电阻，实现自愈。

显然，完成金属化有机薄膜电容器的自愈需要一定的能量。能量来源有两种，一种来自电源，另一种来自瑕疵段金属的氧化氮化放热反应，自愈所需的能量通常称为自愈能量。

自愈是金属化薄膜电容器最重要的特性，它带来的好处是主要的。但是，也有一些缺点，例如所用电容器的容量逐渐减小。如果容量在大量自愈下工作，会导致其容量和绝缘电阻明显下降，损耗角明显增大，电容器迅速失效。

如果您对金属化薄膜电容器自愈特性的其他方面有见解，请与我们讨论。